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为什么高dv/dt系统中电流采样容易不稳定?

来源:www.gchsensor.com 作者:韦克威科技 时间:2026-06-09 11:20:18 点击:34次

在SiC或高速IGBT应用中,开关瞬态产生强共模干扰,通过寄生电容耦合进入信号链。
如果隔离设计或屏蔽不充分,会导致输出抖动甚至误触发保护。


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